1.環境試験用 SCSI , SAS & SATAインターフェイス・テストシステム SYS2010
  低高温恒温槽タイプ
    -10℃〜+60℃

2.環境試験用 IDE(PATA,SATA)  インターフェイス・テストシステム
  SYS2010 低高温恒温槽タイプ

                  

・SCSI,SAS & SATAインターフェイステスタ
 1〜最大64台のSCSI ,SAS および SATAインターフェイス・デバイスのテストを1台のパソコンで管理しこれらの
 デバイス試験を温度(-10℃〜+60℃まで可能)を変えながら行うシステムです。
 これらのテストシステムは、上記の最大数のテスタを同時に実行させることが可能で、エラー・ロギング・データ、
 試験結果、デバイス動作時間測定結果,データ転送レイトをテストデバイス毎にパソコンのHDD内に記録します。
 マイナス側の温度は、試験台数により変わる場合があります。
 チャンバーは、1200Wで−20〜85℃の能力がありますのでー側の温度試験も可能です。
・ SCSI,SAS & SATAの試験は、Single Board CPUまたはマザーボードを使用して汎用のPCI_exp SCSI/SASまたは
 SATAカード を使用して行います。これらの制御は、ホストパソコンからLAN経由で行います。
 SATAコマンドは、ATA-PASS-THROUGHコマンドを使用しています。
・SCSI、SAS & SATAデバイスの試験は、汎用カードの変更でいろいろな仕様に対応可能です。
・ いろいろなロギングモードでテスト状態をログすることが可能です。
 ログ数の制限でテストを中断したり、無限にログすることもプログラミング可能です。
・テスト・プログラムは、標準テスト・プログラムを多数用意し、編集、コンパイル機能を提供し、テスト言語はCを
 使用します。
・リアル・タイム・センス機能:テスタが動作中ドライブおよびテスタの状況がセンス可能です。
・ バーコードリーダを使用しデバイスに表示しているラベルで各種結果を管理することが可能です。
・ チャンバーは、実績のあるエスペック社の製品を使用しています。
・ 各チャネルのデバイス電源は、+5V、+12Vが標準ですが、+5Vは、プログラムで+5Vと+3.3Vが切替が
 可能です。それぞれ最大±20%まで±1%単位でプログラミング可能です。
 +12Vは、オプションで+7、+9、+16Vに変更可能です。センシングタイプですのでケーブルによる電圧降下の
 心配は不要です。
・ 使いやすいテスタ言語で、受入・出荷・診断・評価テストに適しています。
・ 各種テストフィクスチャを用意し、テスト時間短縮と信頼性の向上に貢献可能です。
・ライトまたはリードコマンドは、Sector Count以外にByteLength指定1MB,2,4,8,10,20,40,80,100,200,400,800MB,
 1GB,2,4,8GB単位 指定が可能で、転送速度の測定に便利です。

・各チャネルのテスタはWakeUP-ON/OFF機能で電源のON/OFFが可能でメンテナンスが容易です。
・SCSI,SAS,SATAインターフェイス用テスト装置です。

仕     様
1)HDDサイズ対応   2.5 または 3.5型 SAS/SCSI−WIDE、SCA、SATA 
   ・デバイスの切替はフィクスチャーの交換等で対応が可能です
   ・フィクスチャーへのHDD取り付け作業が容易で、機械的に固定をしています
   ・フィクスチャーの交換作業は頻度が高いことが予想される為作業性と耐久性を考慮しました
   ・フィクスチャーは現在市販されている全メーカーのHDDの試験が位置調整で可能です

2)HDD方式対応  ・SAS/SATA  3.5型              max 6Gb/S 
             ・SAS/SATA  2.5型               max 6Gb/S 
             ・SCSI  3.5型   LVD WIDE(68pin)  320MB/SEC 
                          LVD SCA(80pin)  320MB/SEC 
            ・現在市販されている全メーカーのHDDの試験が可能です

3)試験台数    ・SAS,SCSI,SATA   混在可能で 64台同時試験可能
 
4)試験温度範囲  ・0℃〜+60℃(下記の条件でこの範囲外の設定が可能です)
             ・0〜60℃の試験範囲を保証する為に温度槽の冷却能力は、1800Wで0〜60℃
             ・1200Wで−20〜85℃です

5)書込・読取時間測定    ライト/リードの時間測定でHDD評価できます

6)不良解析          不良発生時に不良内容の解析機能があります
 
7)テストプログラム入力   温度条件、ライト/リード、電源電圧の条件が自由に設定可能です
                  テスト言語の記述で行います(使用言語:C)
                                              
8)デバイス用DC電源試験  DC電源変動試験  
                   +5V/+3.3V および+12V電圧がそれぞれ±20%まで1%で可能です

9)データ転送レイトは、ライト・リード時に測定し記録され閾値と判定しエラー停止したりグラフ表示(オプション)可能
  です。



HDD評価の機能例

このチャンバーは、エスペック製です。
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−30℃〜+85℃

−20℃〜+85℃

このチャンバーは、エスペック製です。
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・IDE(PATA/SATA)インターフェイス用 PC/AT、ATAPI-8に準拠
 1〜最大106台のIDE(PATA/SATA)インターフェイス・デバイスのテストを1台のパソコンで管理し、PC/AT, ATAPI,
 デバイス(PATA,SATA)試験を温度(-20℃〜+85℃)または(-30℃〜+85℃)を変えながら行うシステムです。
 パソコン内に記述した温度プロファイルデータとテスタプログラムを同期させて温度勾配を変化させたり 恒温試験を
 行うことが可能で、(1対20)×5のHDDコピー機としても使用可能です。
・ IDE(PATA/SATA)テスタのインターフェイスの制御ICは汎用品でなく自社開発のFPGAを使用しています。
 このためユニークなテストや仕様変更に対応することが可能です。SATAはPATA→SATA変換ボードで対応します。
 ハードウエアのアップデートがFGPAコンフィグレーション・メニューで可能です。
・データ転送テストは、PIOモード0〜4、Multiword DMAモード0〜2、ULTRA DMAモード0〜6までノーウエイトでテスト
 可能です。機種によりPIOMode5,6、7にも対応しています。
・ データ転送周期発生器で、周期、パルス幅の設定がプログラミング可能です。
・ コマンドからデータ転送間の時間を5種類に分けてハードのカウンタで実測定可能
 です。測定データは、パソコンのHDD内に保存され、専用ソフトでグラフ表示します。
・時間測定データからデータ転送レート表示をグラフで表示可能です。
・ いろいろなロギングモードでテスト状態をログすることが可能です。
 ログ数の制限でテストを中断したり、無限にログすることもプログラミング可能です。
・テスト・プログラムは、標準テスト・プログラムを多数用意し、編集、コンバート機能、ユーザ・簡単作成言語を
 提供しています。IDE(PATA/SATA)のテスト言語は弊社専用言語を使用を使用します。
・リアル・タイム・センス機能:テスタが動作中ドライブおよびテスタの状況がセンス可能です。
・ バーコードリーダを使用しデバイスに表示しているラベルで各種結果を管理することが可能です。
・ チャンバーは、実績のあるエスペック社の製品を使用しております。
・ 各チャネルのデバイス電源は、+5V、+12Vが標準ですが、+5Vは、プログラムで+5Vと
 +3.3Vが切替が可能です。それぞれ最大±20%まで±1%単位でプログラミング可能です。
 +12Vは、オプションで+7、+9、+16Vに変更可能です。
 センシングタイプですのでケーブルによる電圧降下の心配は不要です。
・ 使いやすいテスタ言語で、受入・出荷・診断・評価テストに適しています。
・ 各種テストフィクスチャを用意し、テスト時間短縮と信頼性の向上に貢献可能です。
・ HDD(PATA/SATA)、SSD、SD、CF、MO、CD−R、CD-RW、DVD、BR等の IDE(PATA/,SATA)インターフェイス
 用テスト装置です。