多チャンネル用IDE(PATA,SATA)インターフェイス・テストシステム
SYS2010 高温恒温槽タイプ

室温〜+70℃

SYS2010高温バーインテストシステム 
このチャンバーは、当社製です。
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・PATAからSATA専用に変更するアップデイトを実施中です、ご連絡お待ちしています!

                    

・ 1〜最大255台のIDEインターフェイス・デバイス・テスタを1台から数台の パソコン で管理し、PC/AT、ATAPI、SATAの
 デバイス・テストを行うシステムです。このシステムは、上記3種類のインターフェイス用テスタを 同時に実行させることが可能で、
 エラー・ロギング・データ、試験結果、 デバイス動作時間測定結果をテストデバイス毎に パソコンのHDD内に管理します。 
・ テスタのインターフェイスの制御ICは汎用品でなく自社開発のFPGAを使用しています。
 このためユニークなテストや仕様変更に対応することが可能です。
 ハードウエアのアップデートがFGPAコンフィグレーション・メニューで可能です。
・ デバイスのデータ転送テストは、PIOモード0〜4、Multiword DMAモード0〜2、ULTRA DMAモード0〜6までノーウエイトでテスト可能です。
 機種によりPIO Mode5、6、7に対応可能です。
・ データ転送周期発生器で、周期、パルス幅の設定がプログラミング可能です。
・ コマンドからデータ転送間の時間を5種類に分けてハードのカウンタで実測定可能です。
 測定データは、パソコンのHDD内に保存され、専用ソフトでグラフ表示します。
・ 時間測定データからデータ転送レート表示をグラフで表示可能です。
・ いろいろなロギングモードでテスト状態をログすることが可能です。
 ログ数の制限でテストを中断したり、無限にログすることもプログラミング可能です。
・ テスト・プログラムは、標準テスト・プログラムを多数用意し、編集、コンバート機能、ユーザ・
 簡単作成言語を提供し、導入時のテストプログラムは無償製作しています。
・ リアル・タイム・センス機能:テスタが動作中ドライブおよびテスタの状況がセンス可能です。
・ バーコードリーダを使用しデバイスに表示しているラベルで各種結果を管理することが可能です。
・ 設置場所の温度から最大+70℃までの高温恒温バーイン装備です。左右の室温が別々に設定できます。
・ 各チャネルのデバイス電源は、+5V、+12Vが標準ですが、+5Vは、プログラムで+5Vと
 +3.3Vが切替が可能です。それぞれ最大±20%まで±1%単位でプログラミング可能です。
 +12Vは、オプションで+7、+9、+16Vに変更可能です。
 センシングタイプですのでケーブルによる電圧降下の心配は不要です。
・ 使いやすいテスタ言語で、受入・出荷・診断・評価テストに適しています。
・ 各種テストフィクスチャを用意し、テスト時間短縮と信頼性の向上に貢献可能です。
・ HDD、SSD、SD、CF、MO、CD−R、CD-RW、DVD等のIDEインターフェイス・テスト装置です。
  SD、CFデバイスは、IDEに変換するアダプタが別途必要です。