IDE(PATA/SATA)インタフェイス・テスタ SYS2010 Uni COMPACT-USB

株式会社三興電子
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以下の試験に便利!

デバイス電源ON/OFF耐久試験
デバイス電源電圧変動耐久試験
デバイスロードアンロード耐久試験
デバイスの良否判定試験
リードライト試験
パスワード設定解除 その他
SATA変換内蔵タイプもあります!

SYS2010Uni COMPACT-USB U133
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USBから制御ができるテスタ!
デバイス用プログラマブム電源内蔵
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・PATAからSATA専用に変更するアップデイトを実施中です、ご連絡お待ちしています!

                    

・ IDE(PATA,SATA)インターフェイス・テスタ SYS2010 Uni COMPACT-USBは、パソコンのUSBインターフェイス
 から制御できるテスタで、拡張ボードが内蔵されていないので低価格です。
 オプションでUSB HUBでテスタを最大8台まで接続設定することが可能です。
 上面パネルの操作部で単体使用が可能で16種類のテストプログラムを予め登録しておけば長期間のデバイス各種
 耐久試験を行うことが可能です。書込みは、別売のソフトで可能です。
 パソコンで制御した場合は、テストプログラムの開発、デバイスコマンド応答時間測定、データ転送レート測定等が
 可能な、PC/AT、ATAPI、SATAのデバイス・テストを行うシステムです。エラー・ロギング・データ、
 試験結果、デバイス動作時間測定結果は、テストデバイス毎にパソコンのHDD内に記録します。 
・ テスタのインターフェイスの制御ICは汎用品でなく自社開発のFPGAを使用しています。
 このためユニークなテストや仕様変更に対応することが可能です。ハードウエアの
 アップデートがFGPAコンフィグレーション・メニューで可能です。
・ デバイスのデータ転送テストは、PIOモード0〜4、Multiword DMAモード0〜2、ULTRA DMA
 モード0〜6までノーウエイトでテスト可能です。機種によりPIO Mode5,6に対応可能です。
・ データ転送周期発生器で、周期、パルス幅の設定がプログラミング可能です。
・ コマンドからデータ転送間の時間を5種類に分けてハードのカウンタで実測定可能です。
 測定データは、パソコンのHDD内に保存され、専用ソフトでグラフ表示します。
・ いろいろなロギングモードでテスト状態をログすることが可能です。
 ログ数の制限でテストを中断したり、無限にログすることもプログラミング可能です。
・ テスト・プログラムは、標準テスト・プログラムを多数用意し、編集、コンバート機能、ユーザ・簡単作成言語を提供
 しています。
・ リアル・タイム・センス機能:テスタが動作中ドライブおよびテスタの状況がセンス可能です。
・ バーコードリーダを使用しデバイスに表示しているラベルで各種結果を管理することが可能です。
・ 各チャネルのデバイス電源は、+5V、+12Vが標準ですが、+5Vは、プログラムで+5Vと+3.3Vが切替が
 可能です。
 それぞれ最大±20%まで±1%単位でプログラミング可能です。
 +12Vは、オプションで+7、+9、+16Vに変更可能です。
 センシングタイプですのでケーブルによる電圧降下の心配は不要です。
・ IDEインターフェイスに、マスタとコピーするターゲットのデバイスを接続しコピーが簡単にできます。
・ この装置を1台マスタ用とし、この装置またはQuick Tester FASTを複数台〈最大5台)接続して
 高速コピーができます。
・ 使いやすいテスタ言語で、受入・出荷・診断・評価テストに適しています。
・ 各種テストフィクスチャを用意し、テスト時間短縮と信頼性の向上に貢献可能です。
・ HDD、SSD、SD、CF、MO、CD−R、CD-RW、DVD等のIDE(PATA,SATA)インターフェイス・テスト装置です
  SD、CFデバイスは、IDEに変換するアダプタが別途必要です。
・ テスタのAC電源入力電圧は、AC100Vから240Vの範囲で使用可能です。
・ QUICK TESTER FASTと同様にパソコン無で使用することが出来ます。
・ 外形寸法 : 195 (幅) x 220 (奥行) x 116 (高) mm(ゴム足含)