・IDE（PATA,SATA)インターフェイス用 PC/AT、ATAPI-8に準拠
１～最大106台のＩＤＥ(PATA,SATA)インターフェイス・デバイスのテストを１台のパソコンで管理し、PC/AT, ATAPI,デバイス
（PATA,SATA)試験を温度（－３０℃～＋８５℃）を変えながら行うシステムです。
パソコン内に記述した温度プロファイルデータとテスタプログラムを同期させて温度勾配を変化させたり 恒温試験を行うことが
可能で、(1対20)×５のHDDコピー機としても使用可能です。
・ IDE(PATA)テスタのインターフェイスの制御ＩＣは汎用品でなく自社開発のＦＰＧＡを使用しています。
このためユニークなテストや仕様変更に対応することが可能です。
ハードウエアのアップデートがFGPAコンフィグレーション・メニューで可能です。
・データ転送テストは、PIOﾓｰﾄﾞ0～4、Multiword DMAﾓｰﾄﾞ0～2、ULTRA DMA
ﾓｰﾄﾞ0～6までノーウエイトでテスト可能です。機種によりPIOMode５，６にも対応しています。
・ データ転送周期発生器で、周期、パルス幅の設定がプログラミング可能です。
・ コマンドからデータ転送間の時間を５種類に分けてハードのカウンタで実測定可能
です。測定データは、パソコンのHDD内に保存され、専用ソフトでグラフ表示します。
・時間測定データからデータ転送レート表示をグラフで表示可能です。
・ いろいろなロギングモードでテスト状態をログすることが可能です。
ログ数の制限でテストを中断したり、無限にログすることもプログラミング可能です。
・テスト・プログラムは、標準テスト・プログラムを多数用意し、編集、コンバート機能、ユーザ・
簡単作成言語を提供し、導入時のテストプログラムは無償製作しています。
IDEのテスト言語は弊社専用言語を使用、SCSI,SASはCを使用します。
・リアル・タイム・センス機能：テスタが動作中ドライブおよびテスタの状況がセンス可能です。
・ バーコードリーダを使用しデバイスに表示しているラベルで各種結果を管理することが可能です。
・ チャンバーは、実績のあるエスペック社の製品を使用しております。
・ 各チャネルのデバイス電源は、＋５Ｖ、＋１２Ｖが標準ですが、＋５Ｖは、プログラムで＋５Ｖと
＋３．３Ｖが切替が可能です。それぞれ最大±２０％まで±１％単位でプログラミング可能です。
＋１２Ｖは、オプションで＋７、＋９、＋１６Ｖに変更可能です。
センシングタイプですのでケーブルによる電圧降下の心配は不要です。
・ 使いやすいテスタ言語で、受入・出荷・診断・評価テストに適しています。
・ 各種テストフィクスチャを用意し、テスト時間短縮と信頼性の向上に貢献可能です。
・ HDD（PATA,SATA)、SSD、SD、CF、MO、CD－R、CD-RW、ＤＶＤ、ＢＲ等の
IDE(PATA,SATA)インターフェイス用テスト装置です。
環境試験用 ＩＤＥ（PATA,SATA) インターフェイス・テストシステム
ＳＹＳ２０１０ 低高温恒温槽タイプ
